Malzeme Bilimi

TARLA araştırma altyapısında malzeme karakterizasyonu alanında sunulan yetkinlikler aşağıda sunulmaktadır.

Nano-FTIR

Nano-FTIR (Neaspec GmbH, Almanya) cihazını kullanarak malzemelerin nano ölçekli kimyasal tanımlaması ve haritalandırılması artık mümkündür. Bu teknik, dokunma modunda çalıştırılan Atomik Kuvvet Mikroskopi ile Fourier kızılötesi (FTIR) birleştirir. Nano-FTIR, nanometre ölçeğinde hemen hemen her malzemenin hızlı ve güvenilir bir şekilde kimyasal olarak tanımlanmasını sağlar.

Main Specifications of Nano-FTIR (s-SNOM)

• 20 nm optik çözünürlük
• 3-20 μm spektral aralık
• Yakın Alan Spektroskopi yeteneği
• Alan görüntülemeye yakın yüksek hız
• Eşzamanlı optik genlik (yansıma)
• Faz (emilim) ölçümü

FTIR

FTIR, hemen hemen her malzemenin hızlı ve güvenilir kimyasal tanımlanmasına olanak tanır. (https://www.shimadzu.com/an/molecular_spectro/ftir/irtracer/irtracer_2.html).

Main Specifications of FTIR

• 7,800 to 350 cm^-1 spektral aralık
• Michelson interferometre
• S/N 60.000:1
• Pelet, Toz, Sıvı Numuneler ve İnce Filmler ölçülebilir
• Aksesuarlar:

-ATR: sıvı ve katı numunelerin spektrumlarını, sağlanan basınç kelepçesini kullanarak prizmanın yüzeyine sıkıştırarak ölçüm aksesuarı.

-RAS: nm kalınlığında metal bir plaka üzerinde ince filmlerin analizi için 70 ° a insidans açısına sahip yüksek hassasiyetli yansıma ölçüm aksesuarı.

-SRM: μm kalınlığında metal bir plaka üzerinde ince filmlerin analizi için 10° insidans açısına sahip SRM -speküler reflektör aksesuarı.

UV-VIS-NIR Spektrofotometre

Sistem, son derece hassas geçirgenlik ve yansıtma ile ölçümü işleyebilir ve ultraviyole bölgeden yakın kızılötesi bölgeye giden bir aralığı işlemek için üç dedektör kullanır (https://www.shimadzu.com/an/molecular_spectro/uv/uv-3600plus.html).

Main Specifications 

• 185 to 3,300 nm dalgaboyu aralığı
• 0.1 nm çözünürlük
• -6 to 6 Abs fotometrik aralık